#01 千里之行,始于足下

最近半年一直在和小伙伴开发一套分布式测试系统,先前的旧系统已经用了十多年,用户的需求一直在升级且加上维护费用高,一直在努力争取机会申请重新设计,总之是经历百般坎坷才争取Boss的同意。

系统拓扑

我们之前的想法是这样的,想采用Cdaq做一个总控制箱,延伸4个SCC(Sigal Conditioner Controller)分别用于不同工具的数据采集及控制,计划是一个应用控制4个CdaqBoxes,然而实际操作过程中发现诸多问题。
1.后续需拓展更多的CdaqBoxes,硬件连接和软件拓展实现起来都比较困难
2.况且一个CdaqBox的体积太大
3.CdaqBox单独作为一个中转箱实属不妥,它与信号源相隔太远后续不方便维护

于是,我们改成这样做,将信号箱与采集部分结合在一起,单独配置工业电脑+PCI卡实现采集与控制,另外基于windows平台操作起来也比较方便。

控制箱侧面

业务逻辑

1.每一个测试项目将绑定一个16k的RFID卡,用于存储测试相关信息,包括TRNO,SampleNO等等

RFID Card

2.TestSystem集成了Life测试与Use测试,用户可以通过Web Monitor来观察当前测试进度
3.TestSystem与公司内部TRSystem交互,获取内部测试信息并单独上传至测试部数据库
4.TestSystem数据库提供测试数据检索及存储功能
大概的测试流程如下:

测试流程

总结

1.此种硬件方案相比先前方案成本更低,易于拓展及维护
2.为了缩减控制箱体积,后续可集成控制电路做成PCB电路主板
3.TestSystem框架涵盖了测试部所有测试包含Life,Use等等
4.用户可通过web访问TestSystem数据库获取当前测试信息

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